Výsledky hledání
Skočit na navigaci
Skočit na vyhledávání
- '''Numerická apertura''' (NA) vyjadřuje v [[mikroskopie|mikroskopii]] účinnou světelnost [[objektiv]]u. Je to bezrozměrné číslo, kt [[Kategorie:Mikroskopie]] …1 KB (205 slov) - 8. 8. 2021, 14:59
- [[Kategorie:Mikroskopie]] …2 KB (269 slov) - 8. 8. 2021, 17:04
- …objektů, které jsou příliš malé, aby mohly být pozorovány prostým okem. [[Mikroskopie]] je věda o zkoumání malých objektů a struktur pomocí mikroskopu. [[Mi Významným přelomem v rozvoji mikroskopie bylo dílo britského geologa [[Robert Hook|Roberta Hooka]] ''Micrographia'' …18 KB (2 742 slov) - 24. 2. 2025, 08:28
- …unkce a tím zlepší její použitelnost. Je taky používána ve [[fluorescenční mikroskopie|fluorescenční mikroskopii]] pro rekonstrukci obrazu a ve fluorescenčním [[s [[Kategorie:Mikroskopie]] …8 KB (1 282 slov) - 1. 6. 2021, 09:51
- | titul = Mikroskopie horninotvorných a technických minerálů …5 KB (759 slov) - 12. 11. 2024, 12:03
- …. TEM, [[řádkovací tunelový mikroskop|řádkovací tunelová mikroskopie]] a [[mikroskopie atomových sil|mikroskopii atomových sil]] lze použít na měření elektronovýc …15 KB (2 209 slov) - 12. 12. 2023, 02:33
- …magnetické rezonance|nukleární magnetická rezonance]] (NMR), [[elektronová mikroskopie]] (EM) , Mössbauerova spektroskopie (MS) a [[FRET|Försterův rezonanční přen === Elektronová mikroskopie === …22 KB (3 546 slov) - 18. 2. 2025, 17:49
- …o činitele smykového tření je případ velmi malé kolmé síly používané při [[Mikroskopie atomárních sil|mikroskopii atomárních sil]] na površích materiálů s vrstevn …19 KB (3 247 slov) - 13. 3. 2025, 20:43
- * [[Fotoemisní elektronová mikroskopie]] …20 KB (3 209 slov) - 10. 12. 2024, 12:06
- * [[Mikroskopie atomárních sil|AFM mikroskop]] – Pro zobrazení povrchu využívá atomárních… …23 KB (3 769 slov) - 12. 3. 2025, 17:59
- …oubor:FLIM-mKO-mCherry.png|náhled|upright|Srovnání konvenční fluorescenční mikroskopie (A, D) a FLIM (snímky: B, E, histogramy: C, F). Obrázky představují obarven …28 KB (4 349 slov) - 10. 6. 2023, 13:03
- …zlišení za normálními difrakčními limity použitím techniky nazývané [[STED mikroskopie]] ({{Vjazyce2|en|''Stimulated Emission Depletion Microskopy''}}). Tato tech …29 KB (4 254 slov) - 8. 3. 2024, 08:40
- …mů, fluorescenčních měření a [[Kryoelektronová mikroskopie|kryoelektronové mikroskopie]]. …50 KB (9 072 slov) - 6. 11. 2024, 13:04
- …pg|vpravo|náhled|300px|''Saccharomyces cerevisiae'' fixace do membrány – [[Mikroskopie atomárních sil|AFM]]]] …32 KB (5 052 slov) - 3. 12. 2024, 09:43
- …yvinuty metody měření velmi malých sil, kterých se využívá například při [[Mikroskopie atomárních sil|mikroskopii atomárních sil]] (AFM), založené na piezoelektri …62 KB (10 712 slov) - 20. 3. 2025, 18:06